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  • LQ-TS可程式冷熱沖擊測(cè)試試驗(yàn)箱
    LQ-TS可程式冷熱沖擊測(cè)試試驗(yàn)箱

    可程式冷熱沖擊測(cè)試試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

    更新時(shí)間:2024-11-19型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS吊籃式兩廂冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TS吊籃式兩廂冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    吊籃式兩廂冷熱沖擊試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

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  • LQ-TS測(cè)試電池冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TS測(cè)試電池冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    測(cè)試電池冷熱沖擊試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

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  • LQ-TS冷熱沖擊測(cè)試試驗(yàn)箱
    LQ-TS冷熱沖擊測(cè)試試驗(yàn)箱

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  • LQ-TS玻璃冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱
    LQ-TS玻璃冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱

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  • LQ-TS冷熱沖擊溫度老化試驗(yàn)箱
    LQ-TS冷熱沖擊溫度老化試驗(yàn)箱

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  • LQ-TS冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱
    LQ-TS冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱

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  • LQ-TS戶外用品冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱
    LQ-TS戶外用品冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱

    戶外用品冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

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